Описание товара:
Оптический прибор для измерения блеска поверхностей под углом зрения 60º с автоопределением нуля измерения по шкале Гарднера, автономным питанием и калибровочными пластинами.
Применение:
Микро-цифровой блескомер серии DIS (JOT) используется для измерения оценки блеска, визуальных и качественных характеристик неметаллических декоративных материалов. Обычно он применяется в следующих областях:
• измерение визуальных характеристик блеска;
• краски, лака и т.д. неметаллической лаковой пленки;
• строительного декоративного камня: мрамора, гранита, цементных кирпичей и синтетического мрамора;
• пластика, пластикового пола, обоев и облицовочных листов;
• керамики, фарфоровой эмали и белого глазурованного кирпича;
Другая сфера применения: проверка коррозиестойкой способности поверхности.
Принцип действия
1 Определение блеска (коммюнике Американского общества по испытанию материалов)
Блеск необходим для поддержания хорошей отражающей способности поверхности материала. Точное количество отражающего блеска указывается как GS=(FVWV/FIWI) K, где GS означает коэффициент отражающего блеска (единицей считается единица блеска); FIWI означает световой поток поверхности материала под определенным углом к источнику света WI;
FVWV означает полученный световой поток после отражения от поверхности материала под определенным углом поля приема отражения WV;
FVWV/ FIWI означают отражательную способность зеркальной поверхности; K- неопределенный коэффициент. Он зависит от состояния калибровки.
2 Оптическая система
На рисунке 1 представлена схема оптической системы блескомера с параллельной оптической структурой. Волны источника света (S) проходящие сквозь оптический фильтр и конденсатор, изображены на световой диаграмме (Ml) , они совпадают, а также сбалансированы световой диаграммой. Ml представляет собой фокальную плоскость эмиссионной линзы (LI) таким образом, что она подвержена воздействию в качестве параллельного света в эталонной плоскости или образце, а принимающая линза (L2) принимает возвратный свет от эталонной плоскости или образца. После остановки принимающего поля (M2), вставьте его в ресивер (P), чтобы передать фотоэлектрический эффект.
Рисунок 1 Схема оптической системы блескомера для структуры с параллельной оптической цепью
Система оптической цепи должна соответствовать условию I=L, что является отношением зеркального отражения. Итак, если оптическая цепь правильно установлена, а эталонная плоскость достаточно плоская, прямоугольное отверстие диафрагмы Ml покажет в центре симметрии прямоугольного отверстия остановки принимающего поля M2.
3.Геометрические условия инструмента:
Угол сферы охвата составляет 60°, диаметр угла эмиссионной диафрагмы составляет 0.75 0 X 3 °; диаметр угла принимающей диафрагмы составляет 4.4 ° X 11.7° .
4.Эталоны
Первичные эталоны
При использовании технологии зеркальной полировки и черного стекла с полированной поверхностью или материалов с качеством стабильного материала, необходимо использовать первичный эталон в градуировке блеска. Их блеск подлежит соответствующей эталонной спецификации. Первичный эталон предназначен для пропускания зеркального блеска. Черное стекло, индекс рефракции которого составляет 1.567, обозначается как 100 единиц блеска.
Когда индекс рефракции черного стекла меняется на 0.001, блеск изменится примерно на 0.16 единиц блеска.
Рабочий эталон
Существует 2 вида рабочего эталона, применяемого для любого инструмента или серии. Первый – для использования черного стекла с рассматриваемым индексом рефракции и отражающей поверхности в качестве высшего рабочего эталона блеска, второй – считать фаянсовую глазурь рабочим стандартом среднего блеска.
Технические характеристики:
Похожие товары
Корзина 
Оформить заказ 
Каталог товаров
Отрезной инструмент
Шлифовальный инструмент
Алмазные коронки
Фрезы алмазные
Профессиональная химия
Электроинструмент
Станки для обработки камня
Подъемные и удерживающие механизмы
Твердосплав
Строительное оборудование
Разное
К сравнению
